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2015年大连海事大学080900电子科学与技术考研大纲

考研时间: 2014-11-14 来源:查字典考研网

查字典查字典考研网快讯,据大连海事大学研究生院消息2015年大连海事大学电子科学与技术考研大纲已发布,详情如下:

考试科目:电子技术基础(模拟和数字部分)

试卷满分及考试时间:试卷满分为150分,考试时间为180分钟。

试卷内容结构:模拟电子技术50%,数字逻辑设计50%。

第一部分模拟电子技术

一、半导体器件

考试内容

二极管基本电路的分析和计算,如限幅电路、整流电路等稳压管基本电路的分析和计算三极管的工作特性场效应管的工作特性

考试要求

1.掌握二极管原理及其基本电路,如限幅电路、整流电路的分析和计算。

2.掌握稳压管原理及其基本电路的分析和计算。

3.掌握三极管的工作原理和特性。

4.了解几种场效应管的结构及特性,能判断出场效应管的类型或工作状态。

二、放大器基础

考试内容

计算三极管放大器的静态工作点,用H参数小信号模型分析共射放大电路,共集和共基放大电路与共射放大电路相比较的特点计算场效应管放大器的静态工作点、用其交流小信号模型分析共源电路,比较三种组态的特点有源负载放大器的分析多级放大器的分析计算三极管的参数及上下限频率、通频带宽度。

考试要求

1.掌握三极管放大电路的工作原理和分析方法。

2.三极管放大器三种组态特性的比较。

3.掌握场效应管放大器的工作原理和分析方法及其三种组态的比较。

4.掌握单极放大电路的频率特性分析,上限频率、下限频率和通频带的概念。

5.掌握有源负载放大器的工作原理和分析方法。

6.多级放大器的分析方法及其频率特性。

7.掌握基本电流源、比例式电流源和微电流源电路的原理及应用。

三、负反馈放大器

考试内容

会判断反馈类型和极性,了解负反馈对放大器性能的影响,如何根据需要引入反馈,掌握深度负反馈条件下反馈放大器的分析。

考试要求

1.了解反馈的基本概念。

2.了解负反馈对放大器性能的影响。

3.掌握判断反馈类型和极性的方法。

4.掌握深度负反馈条件下反馈放大器的分析。

四、功率放大器

考试内容

计算乙类互补对称功率放大电路输出功率、效率、管耗如何消除交越失真如何选择功放管的参数。

考试要求

1.掌握乙类互补对称功率放大器的电路组成及工作原理。

2.掌握乙类功率放大器性能指标的分析计算。

3.掌握甲乙类功率放大器的电路结构、工作原理和分析方法。

五、差分放大器

考试内容

分析差分放大器的静态工作点,计算不同输入输出方式下差分放大器的差模电压放大倍数、共模电压放大倍数、差模输入电阻、共模输入电阻、输出电阻以及共模抑制比计算有源负载差分放大器的上述性能指标

考试要求

1.了解差分放大电路的工作原理。

2.了解差模工作状态和共模工作状态的概念。

3.掌握双电源长尾式差分放大器的分析方法。

4.掌握有源负载差分放大器的分析方法。

六、集成运算放大器

考试内容

集成运算放大器的三种基本组态集成运放在信号运算方面的应用,如比例、加法、减法、微分、积分集成运放在信号处理方面的应用,如比较器、正弦波振荡器、波形发生器等

考试要求

1.了解集成运算放大器的组成和工作原理。了解集成运放的主要性能指标。

2.掌握集成运放的线性和非线性运用的特点。

3.掌握集成运放线性运用的三种基本组态。

4.分析集成运放在信号运算、产生和处理方面的运用。

第二部分数字逻辑设计

一、数字逻辑电路基础

考试内容

计数体制及数值转换;基本逻辑与复合逻辑;逻辑关系式;逻辑符号;真值表;卡诺图;逻辑代数;逻辑运算;最小项;最小项表达式;最简与或表达式

考试要求

1.二进制、八进制、十进制、十六进制及8421BCD码之间的相互转换;

2.根据逻辑要求建立逻辑函数;

3.用卡诺图化简逻辑函数;

二、门电路与组合逻辑电路

考试内容

TTL集成逻辑门;三态门;传输门;逻辑冒险;半加器、全加器、编码器、译码器、二-十进制译码显示器、数值比较器和数据选择器;

考试要求

1.掌握由小规模集成芯片构成的组合逻辑电路的分析及设计方法;

2.掌握中规模集成芯片的功能和逻辑符号;

3.掌握用中规模集成芯片实现逻辑函数的方法;

4.了解三态门的应用,能判断组合逻辑电路中的竞争冒险现象并消除的方法;

三、触发器与时序逻辑电路

考试内容

触发器;复位/置位;上升沿/下降沿;状态转移图;同步时序逻辑电路;寄存器;计数器;计数器的同步/异步清零;序列信号发生器;

考试要求

1.掌握J-K触发器和D触发器的符号、逻辑功能表、状态方程及工作波形;

2.掌握数码寄存器;移位寄存器;集成移位寄存器的功能表及逻辑符号;

3.掌握集成同步十六进制和同步十进制计数器的功能表及逻辑符号;

4.用集成移位寄存器和集成计数器设计任意模值的计数分频器;

5.设计给定序列信号的产生电路(移存型;计数型);

6.掌握用触发器构成时序逻辑电路的分析和设计方法

四、半导体存储器

考试内容

ROM;RAM;存储容量;

考试要求

1.掌握给定存储器的字长和字及存储容量的概念;

2.掌握存储器的位扩展与字扩展

3.掌握用PROM设计组合逻辑电路

五、模数转换和数模转换

考试内容

数模转换器(DAC);模数转换器(ADC);分辨率;最小分辨电压1LSB;量化方法;量化单位;并型比较型ADC、逐次逼近型ADC、双积分型ADC的特点;双积分型集成ADC;逐次逼近型集成ADC的应用。

考试要求

1.根据量化方法和量化单位及转换精度要求,计算模拟量对应转化的数字量;

2.根据DAC的类型和最小分辨电压,计算数字量对应转化的模拟量。

参考书目:

1.《低频电子线路》(第二版)傅丰林 高等教育出版社或者《电子技术基础》模拟部分(第四版)康华光 高等教育出版社。

2.《数字电路逻辑设计》(第三版)王毓银 高等教育出版社或者《电子技术基础》数字部分(第四版)康华光 高等教育出版社。

考试科目:工程光学

试卷满分及考试时间:试卷满分为150分,考试时间为180分钟。

试卷内容结构:应用光学50%,物理光学50%

第一部分应用光学

一、几何光学的基本定律与成像概念

考试内容

几何光学基本定律,成像的概念和基本性质、完善成像条件,折射面光路计算,折射和反射近轴成像计算;

考试要求:

1.了解基本概念

2.会应用近轴成像公式进行折射和反射成像计算。

二、理想光学系统

考试内容

理想光学系统概念、成像性质、基点基面及其系统表示方法;图解法与解析法求像;牛顿公式、高斯公式、理想光学系统放大率公式

考试要求

1.光学系统基本参数及其求解。

2.图解法求像。

3.解析法求物像关系

4.理想光学系统组合。

5.透镜,特别是薄透镜成像公式。

三、平面与平面系统

考试内容

平面镜成像、双面镜成像、平行平板及其等效作用、反射棱镜、棱镜成像方向判断、棱镜等效作用与展开、折射棱镜与光楔、光学材料分类

考试要求

掌握平面镜成像求解,双面镜成像特点。

掌握平行平板成像等效作用及其计算

掌握反射棱镜类型、成像方向判别、等效作用与展开

掌握棱镜与光楔偏向角计算

掌握透射光学材料分类及光学特性

了解反射光学材料光学特性

四、光学系统中的光阑与光束限制

考试内容

光阑概念及其分类、孔径光阑与视场光阑作用,照相机中光阑、望远镜系统中光阑对光束的选择作用、显微镜经中光束限制、光学系统的景深

考试要求

掌握光阑概念及其分类

理解典型光学系统中光阑对光束的选择作用

远心光路概念与光路分析

光学系统的景深概念及其计算

五、光线光路计算及像差

考试内容

像差定义及分类、典型光学系统像差要求、等晕成像与不晕成像、齐明点与齐明透镜定义及计算、双胶合物镜、像差特性曲线定性分析

考试要求

掌握像差定义及分类。

了解典型光学系统像差要求

掌握等晕成像与不晕成像概念,以及齐明透镜定义及计算

掌握双胶合物镜计算方法

掌握像差特性曲线定性分析

六、典型光学系统

考试内容

眼睛及其光学系统结构、调节与矫正、分辨力、对准精度、双目立体视觉;视觉放大率、角视场与线视场;入瞳、出瞳、出瞳距、出瞳直径,显微镜分辨力和有效放大率,显微镜景深、显微镜照明方法,望远系统分辨力及工作放大率、望远镜的视场,目镜,摄影系统光学特性、景深和物镜类型,投影系统,变焦距光学系统,光学系统外形尺寸计算

考试要求

掌握典型光学系统结构、分辨率、视场、放大率等概念与含义

掌握眼睛的调节与补偿计算方法

掌握放大镜放大率与视场计算方法

掌握显微镜系统及组件参数计算

掌握望远镜系统及组件参数计算

摄影系统结构及参数计算

投影系统结构及参数计算

变焦光学原理

光学系统外形尺寸计算

七、光学系统的像质评价

考试内容

瑞利判断与波前图、中心点亮度与能量包容图、分辨率与点扩散函数、星点检测法与点列图、光学传递函数

考试要求

了解各种光学系统像值评价方法优缺点及适用范围

第二部分物理光学

一、光的电磁理论

考试内容

麦克斯韦方程、物质方程及边值关系平面电磁波及其性质光源和光的辐射光在两介质分界面上的反射和折射全反射光的吸收色散与散射:

考试要求

1.了解积分和微分形式的麦克斯韦方程组、物质方程。

2.了解光的光的电磁波性质,掌握光的电磁波表达形式和电磁场的复振幅描述,熟悉平面电磁波的传播特性。

3.掌握光在介质分界面上的反射、折射,熟悉利用菲涅尔公式计算反射或透射光波的振幅、强度和能流。

4.理解全反射现象和布儒斯特定律,掌握全反射角和布儒斯特角的计算。

5.了解光的吸收、色散和散射原理,并会应用这些原理解释一些自然现象。

二、光的干涉

考试内容

光波的独立传播规律与叠加定理两个频率相同、振动方向相同的单色光波的叠加光驻波两个频率相同、振动方向相互垂直的光波的叠加不同频率的两个单色光波的叠加实际光波的干涉及实现方法杨氏双缝干涉条纹的对比度及其影响因素等倾干涉与等厚干涉典型干涉仪多光束干涉与F-P干涉仪

考试要求

1.掌握同频率同振动的光波的叠加,理解光的相干叠加条件。

2.掌握光程的概念、熟悉光程差和位相差的转换关系。

3.掌握群速度、相速度的概念,了解光拍、光驻波。

4.理解获得相干光的方法,了解干涉条纹的定域性。

5.掌握条纹对比度、空间相干性和时间相干性的概念。

6.掌握杨氏双缝干涉装置,熟悉光强分布和干涉条纹特征的计算方法。

7.掌握等倾干涉和等厚干涉的光强分布和干涉条纹特征的计算方法。

8.掌握平行平板多光束干涉的光强分布、干涉规律及应用,熟悉F-P干涉仪的相关计算方法。

9.掌握典型的干涉装置,如迈克尔逊干涉仪和F-P干涉仪的基本光路、工作原理及其应用,了解泰曼干涉仪和马赫-泽德干涉仪的基本组成。

三、光的衍射

考试内容

惠更斯-菲涅耳原理菲涅耳衍射和夫琅禾费衍射矩孔、狭缝与圆孔的夫琅禾费衍射光学成像系统的衍射和分辨本领多缝夫琅禾费衍射与衍射光栅圆孔和圆屏的菲涅耳衍射

考试要求

1.认识光的衍射现象,了解衍射与干涉的联系和区别。

2.了解惠更斯原理,掌握菲涅尔衍射和夫琅禾费衍射的近似条件。

3.掌握单缝夫琅禾费衍射的光强分布规律。

4.掌握圆孔夫琅禾费衍射的光强分布规律,理解光学仪器的分辨本领与计算。

5.了解多缝衍射的原理,掌握光栅方程以及光栅的重要性能指标,了解闪耀光栅的工作原理。

6.掌握圆孔的菲涅尔衍射规律,了解菲涅尔波带片和菲涅尔透镜。

四、光的偏振与晶体光学基础

考试内容

偏振光和自然光晶体的双折射光波在晶体表面的反射和折射晶体光学器件偏振光的干涉旋光性磁光效应光电效应

考试要求

1.掌握偏振光和自然光的特点和联系,熟悉获得偏振光及检验偏振光的方法。

2.掌握晶体双折射中的基本概念、了解寻常光和非常光的区别。

3.熟悉典型偏振器件的工作原理。

4.掌握1/4波片、1/2波片的特点和作用

5.熟悉偏振光的干涉现象和计算。

6.了解旋光现象、磁光效应和电光效应的规律和应用。

参考书目:

1.《工程光学》(第三版)(上篇)郁道银、谈恒英机械工业出版社或者《应用光学》(第三版)张以谟电子工业出版

2.《物理光学》(第三版)梁铨廷电子工业出版社或者《物理光学与应用光学》(第二版)石顺祥等著西安电子科技大学出版社

考试科目:电路

试卷满分及考试时间:试卷满分为100分,考试时间为120分钟。

电路变量、电路模型和基本电路定律(●掌握,◎理解,○了解)概念:

●电路模型,电荷,电流,电压,功率,电压和电流的参考方向,电阻的数学模型与特性,电导,电压源和电流源,受控源,结点,支路和回路,开路和短路,输入电阻。

原理:

●欧姆定律,KCL和KVL。

方法及运用:

●电源等效变换,电阻的串并联,电阻的星接与角接,电源的串并联,电源的等效变换,电压分配公式和电流分配公式。

●利用电源等效变换简化电路。

二、直流电路的一般分析方法

概念:

●参考结点,结点电压,网孔与网孔电流,回路与回路电流,超级结点与超级回路,线性电路,非线性电路,齐性和可加性。

◎电导矩阵,平面电路和非平面电路。

原理:

●叠加定理,戴维南定理和诺顿定理。

方法及运用:

●回路电流法,网孔电流法,结点法,直流电路中的最大功率传输。

○2b法确定KCL和KVL的独立方程数。

三、含运算放大器的电路分析

概念:

●理想运算放大器模型,虚短和虚断。

方法及运用:

●典型线性电路的分析,例如:反相电路和非反相电路,加法器和减法器,电压跟随器,运放的级联。

◎积分器,微分器。

四、线性动态电路的时域分析

概念:

●理想电容器的模型与伏安特性,理想电感器的模型与伏安特性;一阶电路,二阶电路,初始条件,换路,时间常数;一阶电路的零输入响应、零状态响应及全响应,强制响应和自由响应。

原理:

●换路定律。

方法及运用:

●三要素法求一阶电路的全响应。

◎电感与电容中的储能,电感及电容的串并联。

○二阶电路的零输入响应、零状态响应、全响应及其经典求解方法。

五、正弦稳态电路的分析

概念:

●正弦量及其三要素,正弦量的相位差,有效值,相量和相量图;阻抗,电抗,导纳,电纳,有功与无功功率,视在功率和功率因数,复功率,共轭阻抗匹配。

◎瞬时功率。

○正弦函数激励下的强制响应,复激励函数及其响应。

原理:

●戴维南定理及交流电路最大功率传输定理。

方法及运用:

●复变函数知识:复数及其代数运算,相量运算。阻抗(导纳)的串并联,R,L和C的相量形式,KCL和KVL的相量形式;相量法,正弦稳态电路的基本分析方法如结点法、网孔法等。

◎正弦转换为余弦,交流电路功率的测量。

○正弦激励函数和复激励函数的强制响应。

六、谐振与频率响应

概念:

●串并联谐振,串并联谐振频率,带宽,品质因数。

◎选择性,滤波器

方法及运用:

●RLC串并联谐振电路的特性与曲线。

◎混联电路的谐振。

七、含有互感耦合的电路分析

概念:

●互感及互感电压,同名端,耦合系数,线性变压器及反映阻抗,理想变压器及变比。

方法及运用:

●含有互感电路的分析,去耦法,理想变压器的变压与变流,理想变压器的阻抗匹配。

◎分别从理想变压器的原、副线圈看进去的戴维南等效电路。

八、三相电路

概念:

○对称三相电路,双下标符号,三相电源,三相负载,三相三线制,三相四线制,Δ/Y和Y/Δ电路的转换,Y-Y连接方式,Y-Δ连接方式,三相电压,三相电路的功率。

○不对称三相电路。

方法及运用:

○一相等效电路法,两表法测三相三线制系统的功率。

九、非正弦周期电流电路

概念:

●非正弦周期电流与电压,傅立叶级数的三角形式,谐波,非正弦周期电压与电流的有效值及平均功率。

方法与运用:

●谐波分析法。

◎滤波与滤波器。

○傅立叶分解。

十、拉普拉斯变换

概念:

◎拉普拉斯变换,单位冲击函数,传递函数,R、L、C的运算阻抗,频域运算电路,零点,极点。

○冲击响应。

○卷积,复频率平面及对应的频率响应。

原理:

◎拉普拉斯变换的基本法则。

方法与运用:

◎部分分式法及其在拉氏反变换中的运用,频域运算等效电路用来求解时域全响应。

十一、二端口网络

概念:

●二端口网络方程及其Y,Z,H和T参数矩阵。

◎互易二端口,特性阻抗。

方法及运用:

◎二端口网络的传输特性,二端口的等效电路,二端口的连接,级联,串联及并联。

○回转器和负阻抗变换器。

十二、电路方程的矩阵形式

概念:

◎节点,支路,图,路径,回路,连通图,树,割集,导向图,基本回路,基本割集,增广矩阵,关联矩阵,状态变量,正规树,网络的正规方程。

○增广回路矩阵和基本回路矩阵。

原理:

○KCL和KVL的矩阵形式。

○特勒根定理。

方法与运用:

○给定网络标准状态方程的列写。

○节点分析法,直接分析法,阻抗矩阵法。

○矩阵图之间的关系.

十三、简单非线性电路

概念:

◎非线性电阻,非线性电容,非线性电感。

○状态空间分析。

方法与运用:

◎小信号分析法用来分析简单的非线性电阻电路。

○伏安特性的组合:串联,并联,电压偏置,电流偏置。

○牛顿-拉夫逊法。

●参考书目:

《电路基础理论》信毓昌 大连海事大学出版社或者《电路基础理论》(1至16章,11章除外)邱关源 高等教育出版社第四版

考试科目:光电检测技术

试卷满分及考试时间:试卷满分为100分,考试时间为120分钟。

一、光电检测技术的基本概念

考试内容

误差;系统误差;随机误差;置信限;置信概率;算术平均值;标准偏差;立体角;辐射能;辐射密度;辐射通量;辐射强度;辐亮度;辐射出射度;辐照度;光强;亮度;照度;响应度;噪声;噪声等效功率;探测率;比探测率。

考试要求

1.掌握系统误差、随机误差的概念、特性、规律;

2.掌握检测结果的完整表示方法;

3.掌握置信限、置信概率、算术平均值、标准偏差的计算方法;

4.掌握辐射度量和光度量的概念、物理意义以及两种度量的区别。

二、光源及辐射源

考试内容

光源特性参数、色温、热光源;黑体辐射;气体放电;电致发光;发光二极管;自发辐射;受激辐射;受激吸收;粒子数反转。

考试要求

1.掌握普朗克公式和热光源的辐射特性

2.掌握光源的特性、特性参数、选择原则;

3.掌握气体放电的工作原理;

4.掌握电致发光的工作原理;

5.掌握发光二极管的工作原理;

6.掌握激光器的工作原理;

三、光电探测器及其校正技术

考试内容

外光电效应、光电导效应;光生伏特效应;光热效应;光电倍增管的结构、原理。

考试要求

1.光电倍增管的结构、特性;

2.光电倍增管的工作原理;

3.光电倍增管的工作电路;

4.光电探测器的选用原则;

5.常用的减光手段和减光的基本要求。

四、光学系统及专用光学元件

考试内容

视场;目镜;物镜;光学系统的特点和参数;包括视场角、相对孔径和F数、数值孔径、焦深和景深、最小弥散斑;计量光栅;莫尔条纹;光学编码。

考试要求

1.目镜放大率;

2.调节F数(光圈)的作用;

3.最小弥散斑的求解,光学仪器最小分辨角和分辨率的求解;

4.计量光栅的测量原理和辨向原理;

5.光学码盘及编码方法。

五、光电信号的变换及检测技术

考试内容

噪声;噪声等效带宽;噪声系数;前置放大器;射极跟随器;相位检测器(鉴相器);脉宽鉴别器

考试要求

1.光电探测器中的噪声;

2.光电检测电路的设计要求;

3.前置放大器的作用和工作原理;

4.四种基本放大器的区别和联系,各种放大器对输入电阻和输出电阻的要求;

5.多联放大器的噪声系数;

6.射极跟随器的原理和相关计算;

7.相位检测器(鉴相器)的原理和结构框图;

8.脉宽鉴别器的原理和结构框图。

六、光纤技术及应用

考试内容

光纤;光纤传感器;强度调制;偏振调制;频率调制;相位调制

考试要求

1.光纤的结构和传光原理;

2.光纤的主要参数;

3.光纤的种类;

4.掌握特征矩光纤传感器原理;

5.光纤中光的调制形式。

七、非光物理量的光电检测

考试内容

光强型光电检测系统;脉冲型光电检测系统;相位型和频率型光电检测系统;利用物理光学原理的光电检测系统

考试要求

1.单通道直读法和指零法的结构和工作原理;

2.双通道差动法和交替法的结构和工作原理;

3.频率法测量的工作原理和相关计算;

4.相位法测量的工作原理和相关计算;

参考书目:

《光电检测技术与系统》高岳 电子工业出版社(第二版)或者《光电检测技术》曾光宇北京交通大学出版社(第二版)

考试科目:c语言程序设计

试卷满分及考试时间:试卷满分为100分,考试时间为180分钟。

考试内容

C语言程序的结构数据类型及其运算基本语句选择结构程序设计循环结构程序设计数组的定义和引用函数编译预处理指针结构与联合位运算文件操作

考试要求

1.掌握程序的构成及源程序书写格式。

2.掌握数据类型及其定义方法,运算符的种类、运算优先级,不同数据类型的转换与运算,表达式类型及求值规则。

3.掌握选择结构、循环结构(包括循环的嵌套)的程序调用与使用方法。掌握掌握函数的正确调用、嵌套调用及递归调用。了解宏定义和调用方法。

4.掌握一维、二维数组和字符串的地址以及指向变量、数组、字符串、函数、结构体的指针变量的定义。通过指针引用以上各类型数据。用指针作函数参数。返回地址值的函数。掌握指针数组,指向指针的指针。地址与指针变量的概念。

5.掌握位运算符的含义及使用,了解文件的读写及定位方法。

6.掌握结构化程序设计的方法,具有良好的程序设计风格。

7.掌握程序设计中简单的数据结构和算法并能阅读简单的程序。

参考书目:

C语言程序设计谭浩强清华大学出版社

考试科目:微机原理及应用

试卷满分及考试时间:试卷满分为100分,考试时间为180分钟。

一、微型计算机基础知识

考试内容

微型计算机的基本结构;寄存器结构;总线接口部件;执行部件;存储器组织;I/O端口组织;标志寄存器。通用计算机结构;微处理器、微型计算机、微型计算机系统;微型计算机的分类、特点和发展。

考试要求

1.掌握8086/8088的编程结构;逻辑地址;物理地址;

2.掌握总线接口部件BIU的功能、特点及组成部分;

3.掌握执行部件EU的功能、特点及组成部分;

4.掌握总线接口部件和执行部件工作的管理原则;

5.掌握存储器的分段;物理地址的形成;标志寄存器的作用。

二、指令系统和汇编语言程序设计

考试内容

导立即数寻址;寄存器寻址;直接寻址;寄存器间接寻址;寄存器相对寻址;基址加变址寻址;相对的基址加变址寻址;数据传送指令;算术运算指令;逻辑运算和移位指令;串操作指令;控制转移指令;处理器控制指令;8086/8088的指令格式。

考试要求

1.掌握各种寻址方式的不同使用情况;

2.掌握各种指令的不同使用场合及使用方法;

3.掌握汇编语言编程;

4.掌握系统功能调用。

5.掌握指令执行时间;指令的机器语言格式形式。

6.掌握汇编语言编程。

三、8086/8088的总线周期与总线操作

考试内容

总线周期;8086/8088的引脚功能;典型配置;总线操作。8086/8088工作模式。

考试要求

1.掌握总线周期中的各种状态;

2.掌握存储器读/写周期;I/O接口的读/写周期;中断响应总线周期;

3.掌握数据线和地址线的复用原理;

4.掌握8088的典型配置;8086的典型配置;最小工作模式;最大工作模式;读周期总线操作;写周期总线操作;中断响应总线操作;复位操作;总线保持请示与保持响应操作。

四、微型计算机的输入/输出

考试内容

I/O端口;I/O端口地址、译码技术;I/O端口寻址方式;CPU与I/O之间的接口信号;CPU与I/O之间的数据传送方式;8086/8088的中断系统;中断分类;软件中断;

考试要求

1.掌握无条件传送方式;有条件传送方式;中断传送方式;DMA方式原理;

2.掌握中断矢量及中断矢量表;可屏蔽中断及响应;

3.掌握非屏蔽中断请示及响应;BIOS和DOS中断。

五、常见接口电路

考试内容

中断控制器;定时器/计数器;并行接口;串行接口。接口电路功能及连接;串行通信线路的工作方式;串行通信数据的收发方式;波特率的概念。8259、8255、8251、8253初始化编程及应用程序编程

考试要求

1.掌握8259A芯片的内部结构、工作原理、工作方式、硬件连接、中断优先权管理、控制字、初始化编程及应用编程;

2.掌握8253芯片的内部结构、工作原理、硬件连接、工作方式、控制字、初始化编程及应用编程;

3.掌握8255A芯片的内部结构、工作原理、工作方式、硬件连接、控制字、初始化编程及应用编程;

4.掌握8251A芯片的内部结构、工作原理、工作方式、硬件连接、控制字、初始化编程及应用编程。

六、存储器及其接口

考试内容

存储器的性能指标;Cache;地址译码。存储器及分类;存储器芯片;存储器封装。除尘器扩展

考试要求

1.掌握存储器性能指标的含义;存储器芯片的外特性;

2.掌握8086/8088CPU与存储器的硬件连接。

3.掌握各类存储器的性能、特点;

4.掌握存储器与CPU总线之间各类相关信号线的连接及存储器扩展方法。

七、数/模和模/数转换

考试内容

D/A;A/D;D/A转换器的性能指标;A/D转换器的性能指标;

考试要求

1.掌握D/A转换器的工作原理;

2.掌握DAC0832的结构及工作方式;

3.掌握A/D转换器的工作原理;

4.掌握ADC0809的结构及工作方式;AD574的工作原理。

5.掌握模拟输入信号与系统连接;AD转换的结果数字信号输出线和系统总线的连接。

参考书目:

《微机原理及应用》戴梅萼 清华大学出版社

考试科目:信号与系统

试卷满分及考试时间:试卷满分为100分,考试时间为180分钟。

一、信号与系统的基本概念

考试内容

常用信号的表达式与波形图;冲激信号与阶跃信号的表示与性质;信号的基本运算与分解;系统的线性与时不变性、因果性与稳定性。

考试要求

1.掌握常用信号的表达式,熟练画出信号的波形图;

2.掌握冲激信号与阶跃信号的表示与性质,熟练应用;

3.掌握信号的基本运算与分解;

4.掌握系统的线性与时不变性、因果性与稳定性。

二、线性时不变系统的时域分析

考试内容

线性时不变系统的输入输出方程;零输入响应;零状态响应;单位冲激响应;卷积的运算与性质;线性时不变系统的稳定性与因果性。

考试要求

1.掌握常系数线性微分方程的零输入响应的求解;

2.掌握常系数线性差分方程的零输入响应的求解;

3.掌握常系数线性微分方程的零状态响应的求解;

4.掌握常系数线性差分方程的零状态响应的求解;

5.掌握单位冲激响应的求解;

6.掌握卷积(和)的运算与性质;

7.熟练利用系统的单位冲激(样值)响应判断系统的因果性与稳定性。

三、连续时间信号与系统的傅立叶分析

考试内容

傅立叶级数及其性质;傅立叶变换及其性质;常用信号的频谱;单位冲激响应与系统的频率响应;振幅频谱与相位频谱;幅频响应与相频响应;系统的不失真传输条件;理想低通滤波器及其性质;频率选择性滤波器;系统的稳态分析与稳态响应;信号的抽样与抽样定理。

考试要求

1.掌握周期信号的傅立叶级数及其性质;

2.掌握常用周期信号的傅立叶级数及其频谱图;

3.掌握非周期信号的傅立叶变换及其性质;

4.掌握常用非周期信号的傅立叶变换及其频谱图;

5.掌握系统的频率响应;

6.掌握系统不失真传输的判断;

7.掌握模拟滤波器的特性,理解理想低通滤波器及其性质

8.掌握系统的稳态分析与稳态响应的求解;

9.掌握信号的抽样与抽样定理;

10.掌握周期信号的傅立叶变换。

四、连续时间系统的拉普拉斯分析

考试内容

拉普拉斯变换的定义与收敛域;单边拉普拉斯变换;系统函数及其零极点;单位冲激响应;系统的模拟框图与信号流图。

考试要求

1.掌握利用单边拉普拉斯变换求解电路、求解方程;

2.掌握根据电路作s域电路图;

3.掌握系统函数与单位冲激响应的求解;

4.掌握利用系统函数的零极点画出其频率响应曲线

5.掌握利用系统函数的零极点分布进行因果性、稳定性分析;

6.掌握连续时间系统的模拟框图与信号流图。

五、离散时间系统的z变换分析

考试内容

z变换的定义与收敛域;利用单边z变换求解差分方程;离散时间系统的系统函数及其零极点;单位样值响应的求解;离散时间信号傅立叶变换的定义及其性质;离散时间系统的频率响应;模拟频率和数字频率;离散时间系统的模拟框图与信号流图;数字滤波器

考试要求

1.掌握离散时间信号的z变换的求解及收敛域的确定;

2.掌握利用单边z变换求解差分方程;

3.掌握系统函数及单位样值响应的求解;

4.掌握离散时间信号的傅立叶变换的求解及画出其频率响应曲线;

5.理解模拟频率和数字频率;

6.掌握离散时间系统的模拟框图与信号流图;

7.掌握数字滤波器的滤波特性。

六、状态变量分析初步

考试内容

状态变量和状态方程;状态转移(过渡)矩阵;特征矩阵

考试要求

1.掌握状态方程的列写;

2.掌握状态方程的求解;

3.掌握特征矩阵与状态转移矩阵的求解。

参考书目:

《信号与系统》 郑君里 高等教育出版社(第2版)

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