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2014年北京航空航天大学081602摄影测量与遥感考研大纲

考研时间: 2014-07-22 来源:查字典考研网

查字典查字典考研网快讯,据北京航空航天大学研究生院消息,2014年北京航空航天大学摄影测量与遥感考研大纲已发布,详情如下:

871光学工程综合考试大纲(2014版)

一、复习内容及基本要求

1、应用光学的基本定律与成像概念

主要内容:掌握应用光学的基本定律,成像的基本概念和完善成像条件,光路计算与近轴光学系统,球面光学成像系统。

基本要求:重点是应用光学的四个基本定律,近轴光线的光路计算及球面光学成像系统的物象位置关系。

2、理想光学系统

主要内容:掌握理想光学系统与共线成像理论,理想光学系统的基点与基面,理想光学系统的物像关系,理想光学系统的放大率,理想光学系统的组合,透镜。

基本要求:重点是实际光学系统的基点位置和焦距计算,各类透镜的光学性质,图解法求像、解析法求像,理想光学系统的组合及放大率。

3、平面与平面系统

主要内容:掌握平面镜成像、平行平板、反射棱镜、折射棱镜与光楔。了解光学材料的光学特性。

基本要求:重点是平面镜、平行平板、反射棱镜、折射棱镜与光楔的成像特性。

4、光学系统的光束限制

主要内容:掌握照相系统和光阑,望远镜系统中成像系统的光束的选择,显微镜系统中的光束限制与分析。

基本要求:重点是与成象光束位置和大小相关的术语概念,以及照相系统、望远镜系统、显微镜系统中的光束限制与分析。

5、光度学与色度学基础

主要内容和基本要求:掌握各种辐射量和光学量的定义及其单位,光传播过程中光学量的变化规律,成像系统像面的光照度。

6、光线的光路计算及像差理论

主要内容:概述,轴上点球差,正弦差和慧差,像散和场曲,畸变,色差,波像差。

基本要求:重点是实际光学系统各种像差的基本概念,不要求计算。

7、典型光学系统与现代光学系统

主要内容:掌握眼睛及其光学系统的特性,对放大镜、显微镜系统、望远镜系统、目镜、摄影系统、投影系统的物镜和目镜的结构型式及其主要光学参数深入理解。掌握光电系统的基本组成及光学特性。

基本要求:重点是眼睛、放大镜、显微镜系统、望远镜系统、摄影系统的成像原理及其主要光学参数;并掌握光电系统的基本组成及光学特性。

8、光的电磁理论基础

主要内容:掌握光的电磁性质、光在电介质分界面上的反射和折射规律;掌握光波的叠加定律和叠加条件,深入理解干涉、拍频、驻波、偏振等各种现象的产生条件和现象;理解单色光、准单色光、复色光等光波的傅立叶变换

基本要求:掌握光的电磁波理论基本概念,学会用数学方法描绘波的叠加,了解菲涅耳公式

9、光的干涉和干涉系统

主要内容:理解光波的干涉条件,掌握杨氏干涉实验的产生条件和试验现象;掌握干涉条纹的可见度的定义和影响因素;掌握平板的双光束干涉的基本原理,学会分析典型的双光束干涉系统及其应用;深入理解平行平板的多光束干涉的基本原理,了解其应用

基本要求:掌握等倾干涉和等厚干涉的工作原理和应用方法;了解双光束干涉条纹的形成原理和影响条纹质量的因素;掌握多光束干涉的工作原理。

10、光的衍射

主要内容:了解光波的标量衍射理论,掌握典型孔径的夫琅和费衍射的工作原理和现象;理解光学成像系统的衍射和分辨本领之间的相互关系;掌握多缝夫琅和费衍射的工作原理和试验现象,学会衍射光栅的分析方法

基本要求:掌握惠更斯-菲涅耳原理;掌握夫琅和费单缝、双缝衍射和圆孔衍射的工作原理和在工程技术中的应用方法;了解衍射光栅和光栅光谱仪。

11、光的偏振和晶体光学基础

主要内容包括:偏振光概述;光在晶体中的传播;光波在晶体表面的折射和反射(惠更斯做图法求取光线方向);晶体偏振器件;偏振的矩阵表示;偏振光的变换和测定;偏振光的干涉;磁光、电光和声光效应

基本要求:掌握偏振光的基本概念和偏振器件的基本原理;了解基本的偏振现象(马吕斯定律和偏振干涉);了解磁光、电光和声光效应的产生机理和具体应用。

12、光的量子性和激光基础

主要内容包括:掌握光的量子性的基本概念,掌握自发发射、受激发射与受激吸收的基本原理和现象;了解激光的基本原理,了解激光器的类型;了解半导体激光器的工作原理及应用。

基本要求:掌握谐振腔的基本原理和控制激光光谱线宽的基本方法;了解不同类型激光器的结构和应用;了解激光器的相关技术:稳频、调Q、锁模等。

其中,1、2、3、4、7、8、9、10、11是重点。

872摄影测量与遥感综合考试大纲(2014版)

一、考试组合

摄影测量与遥感综合包含摄影测量基础、数字图像处理、遥感原理与应用三个科目,任选两个科目,每个科目分数分别为75分,总分150分。

二、摄影测量基础部分考试大纲

1.摄影测量的基本概念和基础知识

主要内容:摄影测量的定义、任务、发展概况;摄影测量常用坐标系、成像模型等。

基本要求:掌握摄影测量学科的定义、基本任务、发展过程;熟悉摄影测量常用坐标系的建立、中心投影构像方程的建立。

2.单张航摄像片解析

主要内容:航摄像片上的特殊点线面、航摄片段内、外方位元素、空间直角坐标变换、航摄片的像点位移与比例尺、单张航片的空间后方交会。

基本要求:熟悉航空摄影中的基本几何关系、熟练掌握空间直角坐标变换、掌握单张航片的空间后方交会方法。

3.双像解析摄影测量

主要内容:航摄像对的立体观察与测量、双像解析摄影测量的任务与方法、立体像对的前方交会、双像解析计算的空间后交-前交方法、解析法相对定向、模型点坐标的计算、解析法绝对定向、光束法双像解析摄影测量、解析法空中三角测量。

基本要求:熟悉双像解析摄影测量的任务与方法、熟练掌握立体像对的前方交会、双像解析计算的空间后交-前交方法、解析法相对定向、解析法绝对定向、光束法双像解析摄影测量、解析法空中三角测量。

4.数字摄影测量

主要内容:基本概念,数字图像与影像重采样、基于灰度的影像相关、基于特征的影像匹配、同名核线的确定与核线相关。

基本要求:掌握数字摄影测量与模拟、解析摄影测量的区别与联系,熟练掌握基于灰度的影像相关方法、基于特征的影响匹配,掌握核线相关的方法。

5.测图原理及测图仪器

主要内容:立体测图方法、模拟法测图原理、模拟测图仪的结构与分类;解析测图方法、解析法测图原理、解析测图仪的结构与分类。

基本要求:掌握各种测图方法及仪器的原理。

6.数字高程模型及其应用

主要内容:基本概念,数据点的获取、预处理、存储,曲面的内插和逼近、曲线内插与逼近、等高线的绘制。

基本要求:数字高程模型的基本概念,数字高程模型的建立、数据点的获取及存储,曲面的内插和逼近、曲线内插与逼近、绘制等高线的方法。

二、数字图像处理部分考试大纲

主要内容包括三部分:第一部分是数字图像处理的基础;第二部分是数字图像增强处理的理论、方法和实例,包括空间域图像增强、频率域图像增强和形态学图像处理;第三部分是图像特征提取与分析的基本理论、方法和实例,包括图像分割、表示与描述和对象识别。

具体章节如下:

1、数字图像基础

内容:图像取样和量化、像素间的一些基本关系

要求:掌握图像取样和量化的概念,熟练掌握像素间的一些关系

重点:像素间的一些空间关系

2、空间域图像增强

内容:基本灰度变换、直方图处理、用算术/逻辑操作、空间滤波基础、平滑空间滤波器、锐化空间滤波器;

要求:掌握图像空间增强的相关术语、图像灰度级变换方法、图像直方图的概念和直方图均衡化算法。掌握图像的算术和逻辑操作方法,了解空间滤波基础,掌握平滑空间滤波的基本概念和特点。掌握图像的一阶微分和二阶微分的典型计算方法、锐化空间滤波的基本概念和特点。

重点:直方图概念;平滑空间滤波器;图像一阶微分、二阶微分的概念和计算方法;拉普拉斯算子和典型梯度增强算法

3、频率域图像增强

内容:傅立叶变换概念、频率域滤波的基本步骤、低通和高通滤波器。

要求:掌握二维傅立叶离散变换及反变换的定义,掌握频率域滤波器的概念、性质和计算步骤,掌握空间域滤波和频率域滤波的对应关系。掌握低通和高通滤波器的概念和性质。

重点:二维离散傅立叶变换和反变换;频率域滤波的概念和计算步骤;高斯低通滤波器;高斯高通滤波器。

4、形态学图像处理

内容:膨胀与腐蚀、开操作与闭操作

要求:掌握膨胀和腐蚀形态学操作的基本定义、性质、计算方法。掌握开、闭等基本形态学操作算法的定义、性质、计算方法。

重点:膨胀、腐蚀;开、闭

5、图像分割

内容:边缘检测、阈值处理

要求:掌握边缘检测方法、图像阈值化处理方法和全局自动阈值化算法。

重点:边缘检测方法;全局自动阈值化算法。

6、表示与描述

内容:表示方法、边界描绘子、区域描绘子

要求:掌握链码、多边形近似等概念。掌握一些简单的描绘子、形状数的概念、傅立叶描绘子的相关概念。掌握一些简单的描绘子、拓扑描绘子以及纹理等描绘子。

重点:链码概念;形状数的概念和傅立叶描绘子;拓扑描绘子。

7、对象识别

内容:模式和模式类、基于决策理论方法的识别

要求:掌握模式和模式类的概念,掌握最小距离分类器、相关匹配等基本方法。

重点:模式和模式类概念、最小距离分类器

三、遥感原理与应用部分考试大纲

1绪论

主要内容:遥感的基本概念、遥感数据获取的基本过程、遥感的分类、遥感技术的发展历史、与发展趋势、遥感技术的典型应用。

基本要求:1)理解并掌握遥感的基本概念、类型、特点及优势;2)理解遥感系统的构成;3)了解遥感发展简史及发展趋势;4)了解遥感技术在典型行业中的应用。

2电磁波与地物波谱特征

主要内容:电磁波与电磁波谱、电磁波辐射原理、黑体辐射、太阳辐射、大气窗口、大气对电磁波的影响、地物的反射辐射、物体的发射辐射、地物的反射类别、影响地物光谱变化的因素、地物光谱特性的测定,植物、水体、岩矿、土壤4大自然地物的波谱特性。

基本要求:1)理解和掌握电磁波、电磁波谱,辐照度、辐射出射度、辐亮度、朗伯源、绝对黑体、太阳常数、大气窗口、反射率及反射波谱、BRDF等基本概念;2)熟悉遥感常用的电磁波段,理解和掌握普朗克定律、斯蒂芬-波尔兹曼定律、维恩位移定律与基尔霍夫定律等电磁波辐射定律及对遥感的意义;3)了解大气的成份和大气层的垂直结构与特征,理解大气吸收与散射机理、大气辐射传输过程;4)了解太阳辐射与地球辐射的特点;5)掌握植被、水体、岩石和土壤4大典型地物反射波谱的特征,理解环境对地物光谱特性的影响;6)理解地物波谱的概念及其对遥感的意义;(7)掌握地物波谱的测量方法。

3遥感平台与传感器系统

主要内容:遥感平台类型、摄影成像与影像特点、光机扫描成像与影像特点、推扫式扫描成像与影像特点、雷达成像与影像特点、光电成像基本原理、常用传感器的基本技术参数和各波段的主要应用范围、遥感图像的分辨率及其特征(空间分辨率、光谱分辨率、辐射分辨率、时间分辨率)。

基本要求:1)了解国内外主要的陆地卫星、气象卫星、对地观测系统(EOS)卫星和海洋遥感卫星平台的特点;2)掌握目前常用的遥感传感器(AVHRR、TM、ETM+、SPOT、QUICKBIRD、MODIS等)的基本技术参数(波谱段范围、分辨率等);3)掌握垂直摄影像片中垂直投影与中心投影的区别;4)掌握光机扫描及固体自扫描(推帚扫描),瞬时视场角,高光谱遥感的概念;5)理解摄影成像原理与影像特点;6)理解扫描成像原理与影像特点;8)掌握遥感图像空间分辨率、波谱分辨率、辐射分辨率、时间分辨率的概念及意义。

4遥感图像处理

主要内容:遥感图像的统计特征、遥感图像辐射定标、遥感图像辐射校正、遥感图像大气校正、遥感图像几何校正。

基本要求:1)掌握遥感数字图像、图像数字化、象元、灰度值等基本概念,理解遥感数字图像的特点及表示方法,理解数字图像与模拟图像的主要区别;2)了解常见的遥感器辐射定标方法、理解引起遥感辐射畸变与几何畸变产生的主要原因,掌握遥感图像辐射校正和几何校正的基本方法和步骤;掌握常用的大气校正方法。

5热红外遥感

主要内容:黑体辐射、真实物体辐射、热辐射与地面的相互作用、大气效应、地物的热学性质、热红外图像成像时段波段的选择、热红外图像的特点、热红外图像的解译、热红外遥感系统、热红外遥感应用。

基本要求:1)理解典型地物的热学性质与热红外遥感图像的特点,掌握热红外遥感图像的解译方法;2)理解大气对地面长波辐射的影响、地面长波辐射的特点;3)了解典型热红外遥感系统;4)了解热红外遥感的典型应用;

6微波遥感

主要内容:微波遥感的基本概念、多普勒效应、雷达成像原理、雷达回波强度的影响因素、雷达图像的特点、雷达图像的解译与处理方法、极化雷达与干涉雷达、微波遥感系统、微波遥感应用。

基本要求:.1)掌握微波遥感的基本概念;2)了解微波遥感特点、类型及主要传感器工作原理;3)了解常见的微波遥感系统;4)了解微波遥感的典型应用;

7遥感应用

主要内容:遥感技术在资源调查与管理、环境监测与评估、灾害动态监测等典型行业中应用的基本原理与方法。

基本要求:1)了解遥感技术的主要应用领域;2)掌握遥感技术在某一行业领域中的应用方法与流程。

873仪器综合考试大纲(2014版)

一、考试组合

本科目考试有以下三个选项:A--数字电子技术部分占75分,B--自动控制原理部分占75分,C--工程光学部分占75分。

报考考生可在A、B、C三个选项中任选两项,共150分。

二、数字电子技术部分考试大纲

(一)主要内容及基本要求

1.逻辑代数基础

?逻辑代数基本逻辑运算、符号表示,基本公式及常用公式,逻辑代数的四种表示方法及转换;

?逻辑函数化简法:公式法和卡诺图法,具有约束项的卡诺图法化简,多输出逻辑函数的卡诺图化简;

2.门电路

?TTL与非门的工作原理、输入信号噪声容限及抗干扰能力、输入端负载特性、平均传输时间、动态尖峰电流及其解决措施、有源泄放电路、抗饱和肖特基电路。

?OC门上拉电阻的计算,三态门的使用特点及应用。

?MOS门电路特点,传输门工作原理及应用。

3.组合逻辑电路

?组合逻辑电路分析与设计方法。

?全加/全减器工作原理及其在函数发生方面的应用,数据选择器和译码器工作原理及其扩展以及在函数发生方面的应用,编码器工作原理及其在组合逻辑电路中的应用。

4.触发器

?RS触发器、JK触发器、D触发器、T触发器和T'触发器的功能、特性方程、特性表、约束条件、工作条件。

?同步触发器的空翻现象,主从触发器的一次变化问题。

?会认各类触发器的符号,会进行各类触发器的相互转换。

5.时序逻辑电路

?时序逻辑电路的概念。

?寄存器、计数器工作原理。

?同步时序电路分析,异步时序电路分析,自启动判断。同步时序逻辑电路的设计,有输入变量的同步时序电路设计,会从实际问题出发进行逻辑抽象、状态分配、等价状态合并、会画次态卡诺图、输出卡诺图,求输出方程、驱动方程,画逻辑图,检查自启动,会自启动设计。

?熟悉集成计数器(74LS160、74LS161、74LS290)的功能端的使用,会使用其分析和设计时序逻辑电路。会使用异步复位法、预置数法设计,会采用串行进位方式和并行进位方式设计电路。

6.脉冲波形的产生和整形

?555时基电路工作原理。

?施密特触发器、单稳态触发器、多谐振荡器的工作特性。

?掌握如何用555电路构成施密特触发器、单稳态触发器、多谐振荡器,会认图形符号。

?施密特触发器:会画电压传输特性图

?单稳态触发器和多谐振荡器:会画电压波形图,会计算输出脉冲周期和占空比并会通过调整电路参数调整周期。

7.半导体存储器

?ROM类型及使用ROM设计逻辑电路。

?EPROM地址扩展和位扩展方法。

8.模数-数模电路

?梯形、倒梯形DAC工作原理,会计算D/A转换电压,会计算D/A转换器的转换精度。

?掌握并联比较式ADC、逐次渐进式ADC和双积分型ADC的转换过程,几种类型ADC的转换精度、转换速度的比较。会画电压转换波形图,会根据图形求输出数字量。

三、自动控制原理部分考试大纲

(一)复习内容及基本要求

1.自动控制的一般概念

主要内容:自动控制的概念;基本控制方式:开环、闭环(反馈)控制;自动控制的性能要求。

基本要求:掌握反馈控制原理与动态过程的概念;由给定物理系统建数学模型和原理方块图。

2.数学模型

主要内容:传递函数及动态结构图;典型环节的传递函数;结构图的等效变换、梅森公式。

基本要求:掌握典型环节的传递函数;闭环系统动态结构图的绘制;熟练结构图的等效变换。

3.时域分析法

主要内容:典型响应及性能指标、一、二阶系统的分析与计算。系统稳定性的分析与计算:劳斯、赫尔维茨判据。稳态误差的计算。

基本要求:掌握典型响应(以一、二系统的阶跃响应为主)及性能指标计算;系统参数对响应的影响;熟练应用劳斯、古尔维茨判据;系统稳态误差、终值定理的使用条件。

4.根轨迹法

主要内容:根轨迹的概念与根轨迹方程;根轨迹的绘制法则;零、极点分布与阶跃响应性能的关系。

基本要求:掌握根轨迹法则,熟练根轨迹的绘制;利用根轨迹估算阶跃响应的性能指标。

5.频率响应法

主要内容:线性系统的频率响应;典型环节的频率响应及开环频率响应;Nyquist稳定判据和对数频率稳定判据;稳定裕度及计算;闭环幅频与阶跃响应的关系,峰值及频宽的概念;开环频率响应与阶跃响应的关系,三频段(低频段,中频段和高频段)的分析方法。

基本要求:掌握典型环节和开环系统频率响应曲线(Nyquist曲线和对数幅频、相频曲线)的绘制;系统稳定性判据(Nyquist判据和对数判据);熟练相稳定裕度和模稳定裕度的计算;明确最小相位和非最小相位系统的差别,掌握截止频率和带宽的概念。

6.线性系统的校正方法

主要内容:系统设计问题概述;串联校正特性及作用:超前、滞后及PID;校正设计的频率法及根轨迹法;反馈校正的作用及计算要点。

基本要求:掌握校正装置的作用及频率法的应用;掌握以串联校正为主,反馈校正为辅的设计方法;掌握以频率法为主,根轨迹法为辅的计算方法。

7.线性连续系统的状态空间分析方法

主要内容:状态方程的列写;状态方程的解(矩阵指数及其性质);系统等价变换;状态方程与传递函数的关系;系统的可控性、可观性及其判据;状态反馈及极点配置。

基本要求:对于单输入单输出线性定常连续系统,熟练运用系统可控性、可观性判据,掌握状态反馈及极点配置方法。

四、工程光学部分考试大纲

一、复习内容及基本要求

1、应用光学的基本定律与成像概念

主要内容:掌握应用光学的基本定律,成像的基本概念和完善成像条件,光路计算与近轴光学系统,球面光学成像系统。

基本要求:重点是应用光学的四个基本定律,近轴光线的光路计算及球面光学成像系统的物象位置关系。

2、理想光学系统

主要内容:掌握理想光学系统与共线成像理论,理想光学系统的基点与基面,理想光学系统的物像关系,理想光学系统的放大率,理想光学系统的组合,透镜。

基本要求:重点是实际光学系统的基点位置和焦距计算,各类透镜的光学性质,图解法求像、解析法求像,理想光学系统的组合及放大率。

3、平面与平面系统

主要内容:掌握平面镜成像、平行平板、反射棱镜、折射棱镜与光楔。了解光学材料的光学特性。

基本要求:重点是平面镜、平行平板、反射棱镜、折射棱镜与光楔的成像特性。

4、光学系统的光束限制

主要内容:掌握照相系统和光阑,望远镜系统中成像系统的光束的选择,显微镜系统中的光束限制与分析。

基本要求:重点是与成象光束位置和大小相关的术语概念,以及照相系统、望远镜系统、显微镜系统中的光束限制与分析。

5、典型光学系统与现代光学系统

主要内容:掌握眼睛及其光学系统的特性,对放大镜、显微镜系统、望远镜系统、目镜、摄影系统、投影系统的物镜和目镜的结构型式及其主要光学参数深入理解。掌握光电系统的基本组成及光学特性。

基本要求:重点是眼睛、放大镜、显微镜系统、望远镜系统、摄影系统的成像原理及其主要光学参数;并掌握光电系统的基本组成及光学特性。

8、光的电磁理论基础

主要内容:掌握光的电磁性质、光在电介质分界面上的反射和折射规律;掌握光波的叠加定律和叠加条件,深入理解干涉、拍频、驻波、偏振等各种现象的产生条件和现象;理解单色光、准单色光、复色光等光波的傅立叶变换

基本要求:掌握光的电磁波理论基本概念,学会用数学方法描绘波的叠加,了解菲涅耳公式

9、光的干涉和干涉系统

主要内容:理解光波的干涉条件,掌握杨氏干涉实验的产生条件和试验现象;掌握干涉条纹的可见度的定义和影响因素;掌握平板的双光束干涉的基本原理,学会分析典型的双光束干涉系统及其应用;深入理解平行平板的多光束干涉的基本原理,了解其应用

基本要求:掌握等倾干涉和等厚干涉的工作原理和应用方法;了解双光束干涉条纹的形成原理和影响条纹质量的因素;掌握多光束干涉的工作原理。

10、光的衍射

主要内容:了解光波的标量衍射理论,掌握典型孔径的夫琅和费衍射的工作原理和现象;理解光学成像系统的衍射和分辨本领之间的相互关系;掌握多缝夫琅和费衍射的工作原理和试验现象,学会衍射光栅的分析方法

基本要求:掌握惠更斯-菲涅耳原理;掌握夫琅和费单缝、双缝衍射和圆孔衍射的工作原理和在工程技术中的应用方法;了解衍射光栅和光栅光谱仪。

11、光的偏振和晶体光学基础

主要内容包括:偏振光概述;光在晶体中的传播;光波在晶体表面的折射和反射(惠更斯做图法求取光线方向);晶体偏振器件;偏振的矩阵表示;偏振光的变换和测定;

基本要求:掌握偏振光的基本概念和偏振器件的基本原理;了解基本的偏振现象(马吕斯定律和偏振干涉);了解偏振的矩阵表示及相关计算。

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