姓名：孙秀斌 性别：男
所在部门：成都信息工程学院电子工程学院(大气探测学院)
职称：副教授
出生年月：1968年5月
电子邮件：sunbine@cuit.edu.cn
办公电话：028-85966349
【个人简介】
孙秀斌，男，副教授，生于1968年，研究生学历，博士学位。2004年6月毕业于电子科技大学自动化工程学院，获测试计量技术及仪器专业博士学位，先后在中兴通讯和TCL通讯公司工作，2007年4月调入成都信息工程学院。
【研究方向】
1．高速数字信号处理
2．信息获取与处理
3．雷电科学与技术
【在研项目】
基于USB2.0的四通道边缘扫描控制器设计，校级课题，项目负责人
【完成项目】
1．基于联合时频分析和神经网络的非线性模拟电路测试研究，国家自然科学基金项目（代码：60372001），第三主研人，2006年12月完成。
2．嵌入计算机可测试性设计技术，总装备部，第六主研人，2005年12月完成
3．边缘扫描测试技术研究，总装备部，第四主研人，2003年12月完成
【发表论文】
1．Design of High-Order Sigma-Delta Modulator for BIST of Mixed-Signal Integrated Circuits. IEEE Circuits and Systems International Conference on Testing and Diagnosis, April, 2009, EI收录, 第1作者
2．Efficient algorithm for scheduling of periodic tasks in homogeneous Distributed Test & Control System. IEEE International Conference on Computer Science and Information Technology, August, 2009, EI收录, 第3作者
3．数字集成电路的混合模式内建自测试方法，《仪器仪表学报》，2006年4月，核心期刊（EI收录），第2作者
4．减少SOC测试时间的测试结构配置与规划，《仪器仪表学报》，2005年8月，核心期刊（EI收录），第3作者
5. 模拟电路故障诊断中线性组合矩阵的最简形式，《系统工程与电子技术》，2005年5月，核心期刊（EI收录），第1作者
6. IP芯核测试响应的零混叠空间压缩，《仪器仪表学报》，2005年4月，核心期刊（EI收录），第2作者
7. 一种新的模拟集成电路输出参数测试方法，《仪器仪表学报》，2004年12月，核心期刊（EI收录），第1作者
8. 基于微分灵敏度计算的模拟集成电路故障定位，《仪器仪表学报》，2004年12月，核心期刊（EI收录），第1作者
9.模拟集成电路的测试节点选择，《电子与信息学报》，2004年4月，核心期刊（EI收录），第1作者
10．基于神经网络信息融合技术的模拟电路故障诊断，《电路与系统学报》，2007年10月，核心期刊，第2作者